Rasterelektronenmikroskop (REM)

Mit dem Rasterelektronenmikroskop sind unterschiedliche Analyseverfahren möglich. An dieser Stelle wird nur die Funktion als Mikroskop in der Analyse dargestellt. Wir verwenden ein EVO 15 (Cooperation Zeiss-Leica). Aufgrund der geringen Wellenlänge des Elektronenstrahls sind Vergrößerungen bis zu 300.000-fach möglich. Die Auflösung liegt bei 5,0 nm. Ein weiterer großer Vorteil des Rasterelektronenmikroskops ist die große Tiefenschärfe der Abbildungen.