RASTERELEKTRONENMIKROSKOP (REM)
Mit dem Rasterelektronenmikroskop sind unterschiedliche Analyseverfahren möglich. An dieser Stelle wird nur die Funktion als Mikroskop in der Analyse dargestellt. Wir verwenden ein EVO 15 (Cooperation Zeiss-Leica). Aufgrund der geringen Wellenlänge des Elektronenstrahls sind Vergrößerungen bis zu 300 000-fach möglich. Die Auflösung liegt bei 5.0 nm. Ein weiterer großer Vorteil des Rasterelektronenmikroskops ist die große Tiefenschärfe der Abbildungen.
|
|
|